扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM）是两种不同的电子显微镜技术，它们在 工作原理、应用领域、样品制备和成像特点上存在显著差异。
工作原理
SEM：使用高能电子束扫描样品表面，通过收集散射的电子来生成图像。SEM主要观察样品的表面形貌和组成，可以提供样品表面的三维信息。
TEM：利用电子束穿透样品，通过收集透过样品的电子来生成图像。TEM主要观察样品的内部结构，如晶体结构和形态，能够提供高分辨率的原子级别细节。
应用领域
SEM：适用于观察样品表面的特征，如粗糙度、污染物检测、颗粒形状、大小、分布等。它也常用于快速表征和初步分析。
TEM：适用于研究材料的微观结构，如晶格结构、缺陷、相界以及原子级别的细节。它特别适用于纳米级粉体或具有复杂内部结构的材料。
样品制备
SEM：样品制备相对简单，大多数非导电样品只需进行简单的导电处理（如喷金）即可观察。对于含水的生物样品，需要固定、脱水、干燥等处理。
TEM：样品制备要求高，需要将样品磨制或离子减薄至微纳米量级厚度（通常小于100nm，甚至几纳米），并放在铜网上观察。复杂的制备技术是必需的，以确保电子束能够穿透样品。
成像特点
SEM：提供样品表面的高分辨率二次电子图像，具有较大的视野范围，适合观察较大面积的样品表面。其分辨率通常在1-20nm之间。
TEM：提供样品内部的高分辨率图像，可以达到原子级别。其分辨率通常在0.1-0.2nm之间，能够分辨细胞的超微结构。
其他差异
操作电压：SEM通常使用15KV以上的加速电压，而TEM可以设置在60-300KV的范围内。
放大倍数：SEM的放大倍数通常在1-2百万倍之间，而TEM的放大倍数可以达到5000万倍以上。
图像信息：SEM主要提供样品表面的形貌和组成信息，而TEM主要提供样品的内部结构和成分信息。
根据上述分析，选择SEM还是TEM取决于具体的分析需求。如果需要观察样品表面的特征，如粗糙度或污染物检测，SEM是更合适的选择。而如果需要研究样品的晶体结构或寻找结构缺陷和杂质，TEM则更为适用。此外，TEM的高分辨率使其在材料科学和纳米技术领域具有不可替代的价值。