Flash掉程序可能由多种原因引起，以下是一些常见的情况及其解决方法：
内存冲突
由于计算机上安装的一些软件程序设计不合理，使用的部分内存定义未能及时释放，导致其它程序与其内存冲突。这种情况会提示“非法操作，xxxx内存不能为read或write”，有些情况则不提示，直接将程序关掉。
程序不完整或损坏
如果Flash程序不完整或遭到破坏，在使用某些功能时，应用程序可能出错溢出，导致程序自动关闭。
用户代码误操作
在有对Flash写入或擦除操作的代码中，如果用户误调用了写入或擦除函数，或者由于程序跑飞而恰好执行了Flash擦除或写入函数，这会导致数据丢失或改变。
系统时钟不稳定
系统时钟的不稳定会导致MCU得不到可靠的工作时序信号，从而在读写Flash时产生不可预料的后果。
环境干扰
开关机时的噪声可能导致NAND Flash进入擦除操作，从而引发程序掉电。
电源问题
电源电压的异常可能导致系统单片机工作异常，如输出电压小于单片机系统工作所需的最小电压，或者输出电压不干净、噪音严重等，这些都可能引起单片机内部电路的逻辑紊乱，导致Flash的读写信号处于不稳定状态。
上电时随机态故障
在某些情况下，Flash在上电或掉电时，数据内容可能被意外擦除或改写，这可能是由于上电时Flash的写信号在跳变，刚好满足Flash的写命令。
DRAM工作状态不正常
当系统中的DRAM出现问题时，可能反映出来的是NAND Flash出错、掉程序或查明NAND Flash坏块过多。
建议
检查内存管理：确保所有内存分配和释放操作正确无误，避免内存泄漏和冲突。
程序完整性检查：在发布前对Flash程序进行全面的测试，确保其完整性和稳定性。
代码审查：仔细检查所有与Flash操作相关的代码，避免误操作和程序跑飞。
系统时钟稳定性：确保系统时钟稳定，必要时使用外部晶振或时钟电路。
电源稳定性：使用稳定的电源供应，并考虑加入电源电压检测和滤波电路。
环境测试：在多种环境下进行测试，确保程序在各种情况下都能稳定运行。
上电复位电路：确保上电复位电路正常工作，避免上电时的随机态故障。
DRAM监控：监控DRAM的工作状态，及时发现并处理DRAM故障。
通过以上措施，可以有效减少Flash掉程序的风险，提高系统的稳定性和可靠性。