开短路测试仪怎么编程

开短路测试仪的编程方法可以分为以下几个步骤：

选择参考基准

选择一个良品芯片A作为参考基准。

设置装置中的电流源施加电流的范围与充电时间范围值。

连接与测试

将电流源接至芯片A的任意一个未进行测试的管脚B。

将芯片其他管脚通过开关矩阵与GND相连接。

数据分析

分析管脚B的电压测量值与施加电流值和充电时间的关系。

自我学习与调整

通过在不同连接方式下的管脚测试，结合分类判别，快速方便地实现对未知类型芯片管脚的区分。

编程实现

使用C语言或其他编程语言实现上述步骤，例如：

```c

include // 51 单片机定义寄存器的头文件

include // 51 单片机的申明库函数，软件自带

include // 包含循环左移，右移，一个机器周期延时的头文件，软件自带

define uchar unsigned char

define uint unsigned int

uchar n； // 总共的不良点数

uint i； // 已经测到的点

void delay_ms（int ms）； // 延时 1ms

void beep（） {

BEEP = !BEEP；

delay_ms（40）；

}

void beep_NG（） {

beep（）；

delay_ms（15）；

while（!SW1）；

BEEP = 1；

}

void xianshi（） {

LCD_disp_char（7， 显示板个位LCD_disp_char（6， 显示点十位LCD_disp_char（7， 不良结果处理voidfall_out（ucharl_h,s）ucharspot；开路与短路点的位置ucharKL_DL；开路与短路显示的量uchardat；开路与短路数据差BEEP=0；fall=0；n=n+1；if（cs_data>sd_tata_l[i]）dat=cs_data-sd_tata_l[i]if（dat&0x01）{spot=spot=spot+l_h；xianshi（）；LCD_disp_char（10不良数加一区分开路与短路找出开路点的位置找出短路点的位置"（0X4e）LCD_disp_char（8,LCD_disp_char（10,2,（spot%10）+0x30）；显示显示这个板NGdelay_ms（15）；while（!SW1）；BEEP=1；

}

int main（） {

// 初始化设置

n = 0；

i = 0；

P_HC595_SER = P3^5； // 设置SER data input pin

// 测试循环

while（1） {

// 选择一个管脚进行测试

// 施加电流并测量电压

// 分析数据并判断开路或短路

// 根据结果进行相应的处理

xianshi（）；

}

return 0；

}

```

建议

确保测试设备的硬件和软件都支持自动编程功能。

在实际应用中，可能需要根据具体的芯片类型和测试需求调整编程逻辑。

进行充分的测试，确保编程的正确性和可靠性。