扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）是两种 不同的电子显微镜技术，它们在成像原理、应用领域和样品制备等方面存在显著差异。
成像原理
SEM：使用聚焦电子束扫描样品表面，通过检测二次电子（SE）和背散射电子（BSE）等信号来生成样品的表面图像。这些信号分别对应于样品表面不同高度和原子序数的区域，因此SEM适合观察样品表面的形貌和成分信息。
TEM：使用高能电子束透过样品，通过检测透射电子来生成样品的内部结构图像。由于电子束的穿透能力较强，TEM能够观察到样品内部的晶体结构、形态和应力状态等详细信息。
应用领域
SEM：广泛应用于材料表面表征、形貌观察、颗粒分析、污染物检测等领域。其高分辨率和快速成像能力使其成为材料科学、生物学和环境科学中不可或缺的工具。
TEM：主要用于材料内部结构的分析，如纳米级粉体的晶格结构、缺陷、相界以及原子级别的细节研究。在材料科学、地质学、生物医学等领域具有广泛应用。
样品制备
SEM：样品制备相对简单，大多数非导体只需简单导电处理（如喷金）即可进行观察。含水生物样品需要固定、脱水、干燥等处理。
TEM：样品制备要求高，通常需要将样品制备成极薄的切片（通常小于100nm，甚至几纳米），以确保电子束能够穿透。制备过程包括磨制、离子减薄或超薄切片等步骤。
分辨率和加速电压
SEM：典型加速电压范围为1kV至30kV，空间分辨率可达0.5nm。高分辨率SEM（如球差校正SEM）可以实现小于50pm的空间分辨率。
TEM：加速电压通常在30kV至300kV之间，空间分辨率可达0.1nm甚至更高。像差校正的TEM可以实现小于1Å的空间分辨率。
其他差异
信号类型：SEM主要利用二次电子和背散射电子信号，而TEM主要利用透射电子信号。
成像方式：SEM是逐像素扫描样品表面并构建放大图像，而TEM是生成样品的二维投影图像。
总结：
SEM和TEM在成像原理、应用领域、样品制备、分辨率和加速电压等方面存在显著差异。SEM更适合观察样品表面的形貌和成分信息，而TEM则专注于揭示样品的内部结构和原子级细节。根据具体分析需求，可以选择合适的显微镜技术以获得最佳的分析结果。